2- ma’ruza: Atom emissiya spektrometriyasi. Atomlanish va qo'zg'alish manbalari. Sifat va miqdoriy tahlil


SPEKTR ChIZIQLARINI XARAKTERLOVChI KATTALIKLAR



Yüklə 0,57 Mb.
səhifə6/10
tarix15.02.2023
ölçüsü0,57 Mb.
#84460
1   2   3   4   5   6   7   8   9   10
2-маъруза АОУ.

SPEKTR ChIZIQLARINI XARAKTERLOVChI KATTALIKLAR
1. Chiziqning spektrdagi joyi nm yoki angstremlarda.



2. Spektr chiziqning kengligi , nm larda.
Spektr chiziqning kengligi deb kattalikka aytiladi. Bu yerda va lar chiziq egrisining (konturining) nuqtalariga mos keluvchi to’lqin uzunliklarining qiymatlari (2.5 - rasmga qarang).

3. Intensivligi bu yerda chiziqning intensivligi (yorqinligi, ravshanligi), fotonlar soni, bitta fotonning energiyasi (intensivligi). Fotonlar soni qo’zg’algan holatdagi atomlar soniga, ya’ni elementning konsentrasiyasiga proporsional.
SPEKTRGA AJRATISH VA QAYD QILISH USULLARI
AES da nurlanishni spektrga yoyish usullari uni qayd qilish usullari bilan yaqin bog’langan.
Emission spektroskopiyada erishilayotgan barcha yutuqlar yuqori unumli difraksion panjaralarning ishlatilishi bilan bog’liq. Kamera obyektivining fokus masofasini oshirish va difraksion panjaraning shtrixlar sonini ko’paytirish orqali asbobning teskari chiziqli dispersiyasini yaxshilash mumkin.
2.2-jadval. Bir metrli monoxromator uchun shtrixlar zichligining (yassi panjara) va spektr tartibining teskari chiziqli dispersiyaga ta’siri (230 nm to’lqin uzunligida).



Shtrixlarning zichligi, mm-1

2400

3600

2400

3600

Spektrning tartibi

1

1

2

2

Teskari chiziqli dispersiya, nm/mm

0,382

0,235

0,157

0,061

2.3-jadval. Bir nechta panjaralarning ajratib ko’rsata olish kuchi (230 nm to’lqin uzunligida).

Shtrixlarning zichligi, mm-1

Spektrning tatibi

Panjaraning eni, mm

Ajratish, nm

Ajratib ko’rsatish kuchi

1080

1

60

3,5

65000

1080

2

60

1,7

130000

1800

1

84

1,5

150000

2400

1

110

0,9

260 000

4200

1

84

0,7

350 000

2400

2

140

0,3

670000

3600

2

140

0,2

1000000

AES da fotoelektrik va fotografik usullar spektrni qayd qilishning asosiy usullari hisoblanadi. Yalpi yarim miqdoriy analizlar o’tkazish uchun spektrni ko’z bilan kuzatish orqali qayd qiluvchi asboblar (stiloskoplar) ishlatiladi. Fotoelektrik qayd qilish uchun detektor sifatida yorug’lik oqimini elektr signaliga aylantiruvchi (fotoelementlar, fotoelektron ko’paytirgichlar, fotodiodlar) qurilmalar ya’ni fotoelektrik o’zgartirgichlar xizmat qiladi. Bu holda elektr signalining kattaligi detektorga tushadigan yorug’lik oqimining intensivligiga proporsional bo’ladi. Keng tarqalgan fotokimyoviy detektorlarga fotoplastinka va fotoplyonkalar kiradi. Bu holda yorug’lik oqimining intensivligi fotoplastinkadagi spektr chizig’i tasvirini qorayish darajasini ya’ni, optik zichligini aniqlaydi. Qorayish darajasi fotometrik usul bilan o’lchaniladi.


Oxirgi 20 yilda yorug’lik qabul qilgichlar sifatida fotoplastinka va fotoplenkalanning o’rnini fotoelektron ko’paytirgichlar (FEK) egalladi. FEK lar ikki qismdan, ya’ni tushuvchi fotonlarni elektronlarga aylantiruvchi fotokatod va elektronlar sonini ko’paytiruvchi dinodlardan iborat.
AES da bir va ko’p kanalli qayd qilish usullari ishlatiladi. Namuna chiqargan nurlanishni spektrga yoyish uchun monoxromatorlar va polixromatorlar ishlatiladi. Atomlarning chiqarish spektrlari chiziqlarga juda boy. Shuning uchun, ajratib ko’rsatish kuchi yuqori darajada katta bo’lgan spektral asboblardan foydalanish kerak. Moddalarni alanga bilan atomlaganda chiqarish chiziqlarining soni kam bo’lganligi uchun ajrata olish kuchi past bo’lgan monoxromatorlardan foydalanish mumkin.

Yüklə 0,57 Mb.

Dostları ilə paylaş:
1   2   3   4   5   6   7   8   9   10




Verilənlər bazası müəlliflik hüququ ilə müdafiə olunur ©www.azkurs.org 2024
rəhbərliyinə müraciət

gir | qeydiyyatdan keç
    Ana səhifə


yükləyin